Slideshow

Bezoek Lieve Wierinck in kader van MEP-Scientist Pairing Scheme 2017

Vlnr. prof. Sarah Verhulst en rector Rik Van de Walle
Vlnr. prof. Sarah Verhulst en rector Rik Van de Walle - © UGent, foto Nic Vermeulen
Tags: informatietechnologie INTEC, faculteit ingenieurswetenschappen en architectuur EA, hearing technology
Datum: 23-02-2018
Identificatienummer: Z2018_032_011
Album: Bezoek aan iGent in kader van MEP-Scientist Pairing Scheme 2017